美国CID CI-710叶片光谱探测仪
CI-710叶片光谱探测仪
所属品牌：美国CID
生物及土壤检测仪：叶绿素检测仪-
美国CID CI-710叶片光谱探测仪由爱仪器仪表网代理，本产品功能强大，可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱。现在热卖中，如需购买，可通过ai1718.com的客服热线联系我们!
产品简介：
•CI-700系列之叶片光谱分析仪CI-710功能强大，可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱
•通过光谱可以定性、定量的研究叶片内各组分叶绿素a或b、蛋白质、糖、矿物质等含量及比例变化
•直观的光谱图像和现场数据存储,为植物叶片光合作用、植物遗传特性、植物胁迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段
产品特点：
•非常便携，适合于室内或野外使用
•非破坏性精密地测量叶片在400~950nm波长范围内的反射率、透射率和吸收率
•扫描速度快，灵敏度高
•USB接口连接UMPC数据处理终端
•样品类型，叶片或扁平的物体
标准配置：
•光谱探测器、CI-700LP叶夹、光纤、UMPC数据终端、光谱分析软件、说明书、便携式仪器箱
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测量方式：
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非破坏性测量叶片
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测量光谱：
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叶片透射、吸收和反射光谱
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样品类型：
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叶片或扁平的物体
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检测器：
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CCD线性阵列探测器
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扫描波长范围：
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400～950 nm
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采样速度：
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3.8ms-10s
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光偏离：
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＜0.05%在600nm;0.10%在435nm
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分辨率：
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0.3～10.0nm FWHM
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采样直径：
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7.6 mm
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线性修正：
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>99.8%
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配有CI-700LP叶夹
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尺寸：
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89.1 x 63.3 x 34.4 cm
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重量：
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290g
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