KIF-20-DW激光干涉仪

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美国OLYMPUS KIF-20-DW激光干涉仪由爱仪器仪表网代理，本产品是同样适用于在生产现场对平面或球面的轮廓微观平整度进行数控管理的激光干涉仪，现在热卖中，如需购买，可通过ai1718.com的客服热线联系我们!

产品简介：
•KIF-20-DW是一款适用于快速质量检查的干涉仪系统
•同样适用于在生产现场对平面或球面的轮廓微观平整度进行数控管理
•标准装备包括装载了干涉条纹数值化软件KIF-FIA的PC
•采用新型参照镜台座
•稳定的检查测定

产品特点：
•除了以往的干涉条纹观察，还可以根据干涉条纹来数值化显示像差
•因为数值数据和画面数据可以保存和打印，所以*适合制造工序内的质量管理
•采用了带槽嵌入式新型参照镜台座，可以防止装拆参照镜时的跌落损伤
•并且参照镜的更换也变得简单省时，有益于提高生产效率
•带有防振功能的高刚性干涉仪本体
•充分考虑到生产现场的使用环境
•具有优异的环境适应性和操作性

测定方法	斐佐型干涉仪
口径	ø60（使用选配件时ø6～ø60）mm
参照镜表面精度	λ/20（球面及平面）
光源	He-Ne激光（632.8 nm）2级激光
映像输出	USB2.0数字输出
焦点	有
调整	有（光斑重合法）
倍率	数码变焦（1～3倍）
机身外形尺寸	干涉仪	370(W)×260(D)×845(H) mm （PC除外）
	光源装置	195(W)×365(D)×98(H) mm
机身重量	干涉仪	约20 Kg （PC除外）
	光源装置	约5.0 Kg
电源电压	AC100-120 V / AC200-240 V、50-60 Hz
工作距离	最大300 mm（因参照镜、被检物不同而异）
干涉条纹观察	将电脑用作监视器
相位计算方式	干涉条纹的形状（条纹二值化方式）
干涉条纹数值化软件的主要功能	干涉条纹全屏显示功能  干涉条纹目视确认图表显示功能  调整图象显示功能  P-V、RMS、Pwr、AS、Coma、Sa3的显示功能  （不能进行±判别及角度判别）  规格值设定及合格判断功能  影面设定功能  单一测定、连续测定功能
干涉条纹测定时的再现性	PV值0.1λ以下　※根据本公司测定条件。
干涉条纹测定时间	约1.0秒（根据电脑性能而定）
选配件	测长装置  带槽嵌入式连接器（螺口式参照镜用）  干涉条纹解析装置（KIF-FU60/KIF-FSA）  参照镜（RF60、F0.6、F0.7、F1.0、F1.5、F2.0、F3.0、 F4.0、F6.0、C150、C300、C490、V520、V670、V750、 APC60-15）*1  衰减过滤器（AF60）  *1: 部分参照镜需要配合带槽嵌入式转换器使用。

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