USPM-RU III反射率测定仪

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美国OLYMPUS USPM-RU III反射率测定仪由爱仪器仪表网代理，本产品是可*测量当前分光仪无法测量的微小、超薄样本的光谱反射率的反射率测定仪，现在热卖中，如需购买，可通过ai1718.com的客服热线联系我们!

产品简介：
•USPM-RU III反射仪可*测量当前分光仪无法测量的微小、超薄样本的光谱反射率，不会与样本背面的反射光产生干涉
•是*适合测量曲面反射率、镀膜评价、微小部品的反射率测定系统
•消除背面反射光 
•可测定微小区域的反射率
•测定时间短
•支持XY色度图、L*a*b*测定
•可以测定高强度镀膜的膜厚

产品特点：
•采用特殊光学系统，消除背面反射光
•不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率
•用物镜对焦于样本表面的微小光斑，可以测定镜片曲面及镀膜层是否均匀
•由于使用了Flat Field Grating和线传感器的高速分光测光机构，可以进行快速、再现性很高的测定
•可以依据分光测色法，通过分光反射率测定物体颜色
•采用干涉光分光法，可以在不接触、无损的情况下测定被检物的膜厚（单层膜）

测定波长	380 nm～780 nm
测定方法	与参照样本的比较测定
被检物N.A.	0.12（使用10×物镜时）  0.24（使用20×物镜时）  * 与物镜的N.A.不同
被检物W.D.	10.1 mm（使用10×物镜时）  3.1 mm（使用20×物镜时）
被检物的曲率半径	-1R ～-∞、+1R～∞
被检物的测定范围	约ø60 μm（使用10×物镜时）  约ø30 μm（使用20×物镜时）
测定再现性（2σ）	±0.1%（380 nm～410 nm测定时）  ±0.01%（410 nm～700 nm测定时）
显示分辨率	1 nm
测定时间	数秒～十几秒（因取样时间而异）
光源规格	卤素灯　12 V 100 W
载物台Z方向驱动范围	85mm
PC接口	USB方式
装置重量	机身：约20 kg（PC、打印机除外）  光源用电源：约3 kg  控制器盒：约8 kg
装置尺寸	机身： 300（W）×550（D）×570（H） mm  光源用电源： 150（W）×250（D）×140（H） mm  控制器盒： 220（W）×250（D）×140（H） mm
电源规格	光源用电源： 100 V（2.8 A）/220 V AC  控制器盒： 100V（0.2A）/220V AC
使用环境	水平且无振动的地方  温度： 23±5 °C  湿度： 60%以下、无结露

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