USPM-RU-W​近红外显微分光测定仪

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美国OLYMPUS USPM-RU-W近红外显微分光测定仪由爱仪器仪表网代理，本产品是可以高速高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的近红外显微分光测定仪，现在热卖中，如需购买，可通过ai1718.com的客服热线联系我们!

产品简介：
•从380nm~1050nm的可视光至近红外实现大范围波长区域中的分光测定
•奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定
•由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率
•*适用于光学元件与微小的电子部件等产品
•使用一台即可进行反射率、膜厚、物体颜色、透过率、入射角45度反射率的各种分光测定
•测定以物镜聚光的Φ17~70μm的微小点的反射率
•测定入射角为45度的反射率（选配）
•*适用于测定细小部件、镜片的反射率
•测定反射率时，不需要背面防反射处理
•可选择的膜厚测定方法
•高速、高精度地应对多样化测定需求

产品特点：
•活用反射率数据，测定约50nm~约10μm的单层膜、多层膜的膜厚
•根据反射率数据显示XY色度图、L*a*b*色度图及相关数值
•从受台下部透过Ø2mm的平行光，测定平面样品的透过率
•使用平面光栅及线传感器进行全波长同时分光测定，从而实现高速测定
•新设计了可以在Ø17~70μm的测定区域中进行非接触测定的专用物镜
•通常的分光光度计不能进行测定的细小电子部件或镜片等的曲面，也可以实现再现性很高的测定
•将专用物镜与环形照明组合，不需要进行被检测物背面的防反射处理，*可测定*薄0.2mm的反射率
•使用40×物镜时，在本公司的测定条件下进行测定
•通过测定球面、非球面的镜片、滤镜、反射镜等光学元件的反射率，进行涂层评价、物体颜色测定、膜厚测定
•适用于LED反射镜、半导体基板等微小电子部件的反射率测定、膜厚测定
•适用于平面光学元件、彩色滤镜、光学薄膜等的反射率测定、膜厚测定、透过率测定
•适用于棱镜、反射镜等45度入射产生的反射率测定

	反射率测定			透过率测定	45度反射测定
名称	近红外显微分光测定仪			近红外显微分光测定仪用  透过测定选配件	近红外显微分光测定仪用  45度反射测定选配件
型号	USPM-RU-W
测定波长	380～1050nm
测定方法	对参照样品的比较测定			对100%基准的透过率测定	对参照样品的比较测定
测定范围	参照下列对物镜的规格			约ø2.0mm
测定  再现性（3σ）	反射率测定	使用10×、20×物镜时	±0.02[%]以下（430-1010nm）  ±0.2[%]以下（上述以外）	±1.25[%]以下（430-1010nm） ±5.0[%]以下（左侧记载除外）
		使用40×物镜时	±0.05[%]以下（430-950nm） ±0.5[%]以下（上述以外）
	厚膜测定	±1%		--
波长显示分解能	1nm
照明附件	专用卤素灯光源　 JC12V 55W（平均寿命700h）
位移受台	承载面尺寸：200(W)×200(D)mm　　  承重：3 kg  工作范围：(XY) ±40mm, (Z)125mm
倾斜受台	--			承载面尺寸：　140(W)×140(D)mm  承重：　1 kg  工作范围：(XT) ±1°, (YT) ±1°
装置质量	主体：约26 kg（PC除外）			主体：约31 kg（PC除外）
	控制电源箱：约6.7kg
装置尺寸	主体部位：360(W)×446(D)×606(H)mm			主体部位：360(W)×631(D)×606(H)mm
	控制电源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm
电源规格	输入规格：100-240V (110VA) 50/60Hz
使用环境	水平无振动的场所  温度：15～30℃  湿度：15～60％RH（无结露）

对物镜
型号	USPM-OBL10	USPM-OBL20	USPM-OBL40
倍率	10x	20x	40x
NA	0.12	0.24	0.24
测定范围*4	70μm	34μm	17μm
工作距离	14.3mm	4.2mm	2.2mm
样品的曲率半径	±5mm～	±1mm～	±1mm～

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